Аналитическое оборудование для исследования наноматериалов в ТУ Фрайберга

Просвечивающий электронный микроскоп (TEM)

Позволяет исследовать структурное совершенство слоев и интерфейсов, их толщину, а также параметры наноразмерных включений  и отдельных наночастиц.

 

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)

Количественный метод исследования элементного состава, эмпирической формулы, химического и электронного состояния атомов, присутствующих в материале.

 

Сканирующий электронный микроскоп совмещенный со сфокусированным ионным пучком(SEM/FIB), FEI Helios NanoLab 600

  • Электронный пучок используется для получения изображений поверхности, модифицированной ионным пучком. Для формирования пучка ионов используется источник Ga.
  • Имеются 4 манипулятора для измерения электрофизических характеристик.
  • Для очистки поверхности образцов используется плазменный источник.
  • Имеется система подачи газа для нанесения слоев платины, углерода или диэлектрика с высоким пространственным разрешением.

 

Рентгеновский флуоресцентный спектрометр (WDXRF) S8 Tiger, Bruker

Метод экспрессного анализа с высокой точностью всех элементов от Be до U в широком спектре образцов от твердых тел, до порошков, жидкостей и тд. Пределы чувствительности находятся в диапазоне 0.1 до 10 частей на миллион.

Точность измерения – менее ± 0.1 % 

 

Сканирующие зондовые микроскопы Dimension 3000 DI  и Multimode Veeco

Получение изображений топографии поверхности с высоким пространственным разрешением.

 

Оборудование для рентгеновской дифракции (XRD)

Bruker D8 Advance, Thin film diffraction

Bruker D8 Advance, Powder diffraction

Bruker D8 Discover  

Bruker D8 Quest, Single crystal    diffraction

Для исследования кристаллической структуры материалов.